cw2.pdf

(857 KB) Pobierz
Microsoft Word - Diody i tranzystory - instrukcja ver_C.doc
Laboratorium Podstaw Elektroniki – „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych”
Ę wiczenie 2
Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych
1. WST Ħ P TEORETYCZNY
1.1. Diody
Podstaw ħ wi ħ kszo Ļ ci diod półprzewodnikowych stanowi zł Ģ cze p-n. Ze wzgl ħ du na
powszechno Ļę zastosowania dzieli si ħ je na wiele grup. Dwa podstawowe rodzaje, to diody
ostrzowe i warstwowe.
Ģ cze p-n diody ostrzowej (rys.1) wykonuje si ħ przez wtopienie elektryczne ostrza
metalowego do półprzewodnika typu n. W procesie zgrzewania pod ostrzem tworzy si ħ
mikroobszar typu p.
Rys. 1. Dioda ostrzowa Rys. 2. Dioda warstwowa
(epitaksjalno – planarna)
Diody warstwowe (rys.2) otrzymuje si ħ technologi Ģ stopow Ģ i dyfuzyjn Ģ , przy czym
wykorzystuje si ħ wiele odmian technologii dyfuzyjnej, a zwłaszcza epitaksjalno-planarn Ģ .
Z punktu widzenia u Ň ytkownika, najwa Ň niejszy jest podział diod zwi Ģ zany z ich
zastosowaniem. Według tego kryterium wyró Ň nia si ħ diody:
Prostownicze
Uniwersalne
Tunelowe
Schottky’ego (krótkie czasy przeł Ģ cze ı )
Stabilizacyjne (Zenera, stabilistory)
Pojemno Ļ ciowe (warikap, waraktor)
Symbol graficzny diody prostowniczej przedstawiony jest na rysunku 3. Jak wida ę ,
jest on podobny do strzałki, która w tym przypadku wyznacza kierunek przepływu pr Ģ du
przez diod ħ .
Rys.3. Symbol diody prostowniczej
Wyprowadzenie diody A nazywane jest anod Ģ , a wyprowadzenie K - katod Ģ .
Zakład Automatyki i Kriogeniki I-20, Politechnika Wrocławska
1
412687778.048.png 412687778.059.png 412687778.070.png 412687778.077.png 412687778.001.png 412687778.002.png 412687778.003.png 412687778.004.png 412687778.005.png 412687778.006.png
 
Laboratorium Podstaw Elektroniki – „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych”
Je Ň eli do anody diody doprowadzi si ħ napi ħ cie dodatnie wzgl ħ dem katody, czyli
U AK >0, to b ħ dzie ona spolaryzowana w kierunku przewodzenia i pr Ģ d popłynie od anody do
katody. Przy ujemnych warto Ļ ciach U AK , dioda jest spolaryzowana zaporowo i płynie przez
ni Ģ tak zwany pr Ģ d wsteczny, który jest zwykle o kilka rz ħ dów mniejszy ni Ň pr Ģ d
przewodzenia (cz ħ sto przyjmuje si ħ dla uproszczenia, Ň e pr Ģ d wsteczny jest równy zero).
Warto Ļę napi ħ cia zaporowego nie mo Ň e przekroczy ę pewnej granicy - tak zwanego napi ħ cia
przebicia, gdy Ň wówczas popłynie pr Ģ d porównywalny z pr Ģ dem w kierunku przewodzenia.
Najcz ħĻ ciej powoduje to uszkodzenie diody, z wył Ģ czeniem przypadku, gdy mamy do
czynienia z diod Ģ Zenera (stabilistorem), w której napi ħ cie przebicia wykorzystywane jest do
stabilizacji.
Rys.4. Charakterystyka diody półprzewodnikowej
Na rysunku 4 przedstawiono charakterystyk ħ diody I D = I D (U AK ). Jak wida ę , ju Ň przy
bardzo małych, dodatnich napi ħ ciach U AK pr Ģ d I D płyn Ģ cy przez diod ħ bardzo mocno wzrasta,
osi Ģ gaj Ģ c du Ň e warto Ļ ci. Tak jak ka Ň dy element, dioda ma parametry graniczne, których nie
mo Ň na przekroczy ę bez jej uszkodzenia. Dlatego pr Ģ d przewodzenia diody nie mo Ň e
przekroczy ę warto Ļ ci I Fmax (maksymalnego pr Ģ du diody w kierunku przewodzenia). Napi ħ cie
przewodzenia diody U F okre Ļ la si ħ przy pr Ģ dzie przewodzenia I F = 0,1·I Fmax . Dla diody
germanowej napi ħ cie to zawiera si ħ w zakresie od 0,2V do 0,4V, a dla diody krzemowej - od
0,5V do 0,8V.
Teoretyczn Ģ charakterystyk ħ diody w kierunku przewodzenia mo Ň na opisa ę zale Ň no Ļ ci Ģ :
Ä
AK
mU
Ô
Å
Æ
Õ
Ö
I
=
I
(T)
e
1
T
D
S
gdzie:
I S - teoretyczny pr Ģ d wsteczny,
m - współczynnik korekcyjny (przyjmuje warto Ļ ci od 1 do 2),
U T = kT/q - potencjał elektrokinetyczny.
Potencjał ten w temperaturze pokojowej wynosi:
kT
1,38
×
10
23
[J/K]
×
296[K]
U
=
=
=
25,5[mV]
(#)
T
q
1,60
×
10
19
[C]
Napi ħ cie U Rmax , przy którym nast ħ puje gwałtowny wzrost pr Ģ du I R , nazywa si ħ
napi ħ ciem przebicia. Ze wzgl ħ du na charakter przebicia mo Ň e ono by ę lawinowe lub Zenera.
Charakterystyki zł Ģ czy p-n zale ŇĢ w znacznym stopniu od temperatury. Dotyczy to przede
wszystkim pr Ģ du wstecznego, który wzrasta wykładniczo ze wzrostem temperatury.
W zakresie przebicia zmiany napi ħ cia w funkcji temperatury mo Ň na zapisa ę w postaci
zale Ň no Ļ ci liniowej:
Zakład Automatyki i Kriogeniki I-20, Politechnika Wrocławska
2
U
412687778.007.png 412687778.008.png 412687778.009.png
 
Laboratorium Podstaw Elektroniki – „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych”
U Rmax = U R0 [1 + a UR0 (T – T 0 )]
gdzie: U R0 – napi ħ cie przebicia w temperaturze T 0 , a UR0 – temperaturowy współczynnik
napi ħ cia przebicia.
Współczynnik a UR0 przyjmuje warto Ļ ci ujemne, gdy przebicie jest wywołane zjawiskiem
Zenera, a dodatnie, gdy przebicie jest wywołane zjawiskiem lawinowym.
Charakterystyki diod krzemowej (Si) i germanowej (Ge), otrzymane na podstawie
wzoru (#), przedstawiono na rysunku 6. W obliczeniach przyj ħ to typowe dane katalogowe
diod:
- krzemowej: I S =10 pA, mU T =30 mV, I Fmax =100 mA
- germanowej: I S =100 nA, mU T =30 mV, I Fmax =100 mA.
Z charakterystyk mo Ň na odczyta ę warto Ļ ci napi ħ cia przewodzenia U F : dla diody germanowej
napi ħ cie przewodzenia jest równe 0,35V, a dla diody krzemowej 0,62V.
Rys.6. Charakterystyki diod krzemowej i germanowej
w kierunku przewodzenia
Dioda Zenera (rys.7) wykorzystuje t ħ wła Ļ ciwo Ļę Ģ cz p-n, która w przypadku
zwykłych diod jest zgubna, a mianowicie przekroczenie maksymalnego napi ħ cia wstecznego,
przy którym pr Ģ d bardzo szybko wzrasta. W przypadku diod Zenera, napi ħ cie to jest Ļ ci Ļ le
okre Ļ lone i nazywane jest napi ħ ciem Zenera U Z .
Rys.7. Symbol diody Zenera
Charakterystyk ħ diody Zenera przedstawiono na rysunku 8. Zjawisko stabilizacji napi ħ cia na
diodzie Zenera polega na wykorzystaniu przebicia przy polaryzacji wstecznej diody,
charakteryzuj Ģ cego si ħ tym, Ň e du Ň ym zmianom pr Ģ du diody DI D towarzysz Ģ bardzo małe
zmiany spadku napi ħ cia DU AK . Przyjmuje si ħ , Ň e po przebiciu zł Ģ cza napi ħ cie na diodzie nie
zmienia si ħ i jest równe napi ħ ciu Zenera U Z .
Diody takie stosuje si ħ do stabilizacji napi ħę stałych. Dost ħ pne s Ģ diody Zenera na
napi ħ cia od 3 do 200V, przy czym, im mniejsze jest to napi ħ cie, tym gorsza stabilizacja.
Rys.8. Charakterystyka statyczna diody Zenera
Zakład Automatyki i Kriogeniki I-20, Politechnika Wrocławska
3
412687778.010.png 412687778.011.png 412687778.012.png 412687778.013.png
 
Laboratorium Podstaw Elektroniki – „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych”
Najprostszy układ stabilizacji napi ħ cia stałego z wykorzystaniem diody Zenera
przedstawiono na rysunku 9. Rezystor R1 ustala warto Ļę pr Ģ du płyn Ģ cego przez diod ħ i do
obci ĢŇ enia. Warto Ļę jego rezystancji musi by ę tak dobrana, aby zapewni ę wła Ļ ciwe warunki
stabilizacji dla danego typu diody Zenera. Przedstawiony układ mo Ň e słu Ň y ę jako Ņ ródło
napi ħ cia odniesienia. Układ ten ma jednak kilka wad np. wpływ temperatury i zmian pr Ģ du
płyn Ģ cego przez diod ħ na napi ħ cie stabilizacji.
Rys.9. Podstawowy układ stabilizacji napi ħ cia
W poni Ň szych tabelach zestawiono najwa Ň niejsze dane katalogowe typowych diod
prostowniczych (tab.1) i Zenera (tab.2).
Tabela 1. Dane katalogowe diod prostowniczych.
gdzie:
U RWM – szczytowe napi ħ cie wsteczne diody
U RSM - niepowtarzalne napi ħ cie wsteczne diody
U F – napi ħ cie przewodzenia diody
U R – napi ħ cie wsteczne diody
I o Ļ redni pr Ģ d przewodzenia diody przy prostowaniu
I FSMax – niepowtarzalny pr Ģ d przewodzenia diody
I F – pr Ģ d przewodzenia diody
I R – pr Ģ d wsteczny diody
Tabela 2. Dane katalogowe diod Zenera.
Zakład Automatyki i Kriogeniki I-20, Politechnika Wrocławska
4
412687778.014.png 412687778.015.png 412687778.016.png 412687778.017.png 412687778.018.png 412687778.019.png 412687778.020.png 412687778.021.png 412687778.022.png 412687778.023.png 412687778.024.png 412687778.025.png 412687778.026.png 412687778.027.png 412687778.028.png 412687778.029.png 412687778.030.png 412687778.031.png 412687778.032.png 412687778.033.png 412687778.034.png 412687778.035.png 412687778.036.png 412687778.037.png 412687778.038.png 412687778.039.png 412687778.040.png 412687778.041.png 412687778.042.png 412687778.043.png 412687778.044.png 412687778.045.png 412687778.046.png 412687778.047.png 412687778.049.png 412687778.050.png 412687778.051.png 412687778.052.png 412687778.053.png 412687778.054.png 412687778.055.png 412687778.056.png 412687778.057.png 412687778.058.png 412687778.060.png 412687778.061.png 412687778.062.png 412687778.063.png 412687778.064.png 412687778.065.png 412687778.066.png 412687778.067.png 412687778.068.png 412687778.069.png 412687778.071.png 412687778.072.png 412687778.073.png
 
Laboratorium Podstaw Elektroniki – „Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych”
gdzie:
U Z – napi ħ cie Zenera
r Z – rezystancja dynamiczna
TKU Z – współczynnik temperaturowy diody Zenera
P max – moc maksymalna
1.2. Tranzystor
Na poni Ň szym rysunku 10 zestawiono najwa Ň niejsze rodzaje tranzystorów.
Rys. 10. Podział tranzystorów
Opis tranzystorów w niniejszym opracowaniu b ħ dzie dotyczył wył Ģ cznie tranzystorów
bipolarnych.
Tranzystor jest elementem półprzewodnikowym o trzech ko ı cówkach (elektrodach)
i słu Ň y do wzmacniania lub przeł Ģ czania sygnałów. Tranzystory bipolarne dzieli si ħ na
krzemowe i germanowe, z których ka Ň dy mo Ň e by ę typu npn lub pnp. Zasada działania obu
typów tranzystorów jest jednakowa, natomiast ró Ň nice wyst ħ puj Ģ wył Ģ cznie w polaryzacji
zewn ħ trznych Ņ ródeł napi ħ cia i w kierunku przepływu pr Ģ dów. Na rysunku 11 przedstawione
zostały symbole graficzne tranzystorów npn i pnp oraz ich diodowe modele zast ħ pcze.
Zakład Automatyki i Kriogeniki I-20, Politechnika Wrocławska
5
412687778.074.png 412687778.075.png 412687778.076.png
 
Zgłoś jeśli naruszono regulamin