DIAGNOSTYKA NAWIERZCHNI.pdf

(1845 KB) Pobierz
DIAGNOSTYKA NAWIERZCHNI
DIAGNOSTYKA
NAWIERZCHNI
Najważniejsze badania z pracowni
 
ZAKRES BADAŃ PRACOWNI DN
• Oznaczanie modułu odkształcenia i wskaźnika odksz. nawierzchni
podatnych i podłoża przez obciążenie płytą statyczną (VSS)
• Oznaczenie stanu zagęszczenia gruntów i podbudów za pomocą
ugięciomierza dynamicznego (dyną)
• Ocena równości podłużnej nawierzchni (planografem)
• Badanie oznakowania poziomego - współczynnika luminacji
dziennej (Qd) i współczynnika odblaskowości nocnej (Rl)
(badanie reflektometrem)
• Pomiar ugięć nawierzchni podatnych ugięciomierzem belkowym
• Rozpoznanie przekroju konstrukcji jezdni
82394747.003.png
Oznaczanie modułu odkształcenia i wskaźnika
odkształcenia nawierzchni podatnych i podłoża przez
obciążenie płytą statyczną (VSS)
Badanie polega na pomiarze odkształceń
pionowych (osiadań) badanej warstwy podłoża
pod wpływem nacisku statycznego
wywieranego za pomocą stalowej okrągłej
płyty o średnicy D=300mm.
Nacisk na płytę wywierany jest za
pośrednictwem dźwignika hydraulicznego.
Dźwignik oparty jest o przeciwwagę, której
masa powinna być większa od wywieranej siły.
Procedurę przeprowadzenia badania określa
norma BN-64/8931-02 i PN-S-02205
Badanie charakteryzuje strefę do głębokości 30-50 cm poniżej płyty.
Cykl pomiarowy w terenie trwa około dwóch godzin.
82394747.004.png 82394747.005.png
-Oznaczanie modułu odkształcenia i wskaźnika odkształcenia nawierzchni podatnych i podłoża przez obciążenie płytą statyczną (VSS)-
W skład aparatury wchodzą:
(1 lub 2) – płyta stalowa o średnicy 300mm lub160mm
(3) – trzpień stalowy (4) – dźwignik
(5) – przegub sferyczny
(6) – manometr o skali z działką elementarną 0,05MPa
(7) – trzy czujniki zegarowe o zakresie pomiarowym do
10mm z dokładnością odczytu 0,01mm, przymocowane do
uchwytów (10) i oparte na statywie (9)
(11) – nóżki o stożkowym zakończeniu służace do
statecznego ustawienia statywu
DEFINICJE
Moduł odkształcenia : to iloczyn przyrostu obciążenia jednostkowego do przyrostu odkształcenia
badanej warstwy podłoża w ustalonym zakresie obciążeń jednostkowych,
pomnożonych przez 0,75 średnicy płyty obciążającej
3
D
p
M
= 4
D
Δp – różnica nacisków [MPa]
Δs – przyrost osiadań odpowiadający tej różnicy nacisków [mm]
D –średnica płyty [mm]
D
s
Pierwotny moduł odkształcenia M E1 [MPa]: oznaczony jest w pierwszym obciążeniu badanej warstwy
Wtórny moduł odkształcenia M E2 [MPa]: oznaczony jest w powtórnym obciążeniu badanej warstwy
Wskaźnik odkształcenia I o [-]: stosunek wtórnego modułu odkształcenia M E2 do pierwotnego
modułu odkształcenia M E1
Często zamiast pojęcia wskaźnik odkształcenia Io używa się pojęcia wskaźnik zagęszczenia oznaczanego jako Wz
82394747.001.png
-Oznaczanie modułu odkształcenia i wskaźnika odkształcenia nawierzchni podatnych i podłoża przez obciążenie płytą statyczną (VSS)-
WYKONANIE OZNACZENIA
Przygotowanie aparatu do wykonania oznaczenia
Płytę należy ustawić na wyrównanej powierzchni badanej warstwy. W razie potrzeby powierzchnię
można wyrównać cienką warstwą suchego piasku. Statyw należy ustawić tak, aby jego punkty
podparcia były w jak największej odległości od płyt, jak i od kół pojazdu stanowiącego przeciwwagę.
Następnie należy zamontowaćdźwignik oraz przedłużacz rurowy z górnąpłytą.
Czujniki zegarowe należy zamocować na uchwytach, opierając je na stelażu.
Oznaczenie pierwotnego modułu odkształcenia M E 1
Po ustawieniu aparatury należy wprowadzić wstępne obciążenie 0,02MPa. Następnie
ustawić czujniki zegarowe w pozycji 0,00mm. Doprowadzić ciśnienie na badaną warstwę do:
0,25Mpa - przy badaniu gruntu podłoża lub nasypu
0,35Mpa – przy badaniu podbudowy (np. z tłucznia)
Obciążania dokonuje się w cyklu obciążania stopniami po 0,05MPa (tj. 0,00->0,05->0,10->0,15->0,20>0,25…)
Każdy cykl trwa 2 minuty, po których dokonujemy odczytu z czujników i dane zapisujemy w formularzu.
Po uzyskaniu wymaganego końcowego obciążenia jednostkowego należy przeprowadzić odciążenie
stopniami po 0,1MPa do 0,00 Mpa z równoczesnym zapisywaniem kolejnych wskazań czujników co 2 min i z
odczekaniem 5 min. Przed ostatnim odczytem
Oznaczenie wtórnego modułu odkształcenia M E 2
Po całkowitym odciążeniu płyty powtórnie zadać wstępne ciśnienie 0,05MPa i dalsze badania prowadzić
analogicznie jak wstępne obciążanie
82394747.002.png
Zgłoś jeśli naruszono regulamin