nanomaterialy04.pdf

(603 KB) Pobierz
WSTÊP DO NAUKI O MATERIA£ACH
Wykład IV, 20.03.2006
METODY DIAGNOSTYKI NOWYCH MATERIAŁÓW
NANOTECHNOLOGIE
Q Metody badania materiałów z nanometrową zdolnością rozdzielczą;
Q Skaningowa mikroskopia bliskich oddziaływań;
Q Skaningowa mikroskopia tunelowa;
309178438.028.png
Mikroskopia bliskich oddziaływań
• Scanning Tunneling Microscopy (STM)
• Atomic Force Microscopy (AFM)
• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Scanning Near-Field Optical Microscope
• i inne pochodne
IDEA:
wstawić „przesłonę” bardzo blisko
próbki !!!
309178438.029.png 309178438.030.png 309178438.031.png
Zasada działania przyrządu skaningowego do
nanoskopii, nanomanipulacji i nanolitografii
Pomiar prądu tunelowego będącego
miarą wertykalnego położenia ostrza
Petla sprzężenia
zwrotnego do
kontroli
wertykalnego
położenia ostrza
Ostrze
próbkujące
System
zgrubnej
regulacji
położenia
ostrza
względem
próbki
próbka
Dla materiałów
przewodzących
należy zapewnić
możliwość
kontrolowanej
polaryzacji
elektrycznej ostrza
względem próbki!
Skaner piezo-elektryczny
przesuwający próbkę pod
ostrzem (lub odwrotnie) w
systemie skaningowym
System komputerowy sterujący
skanerem, zbierający dane i
przekształcający dane w obraz
309178438.001.png 309178438.002.png
Piezoelementy
ELEMENTY SKŁADOWE SPM:
Pomiar oddziaływania
http://www.fkp.uni-erlangen.de/methoden/stmtutor/stmpage.html
W zależności od rodzaju
wykorzystywanego oddziaływania
igła-próbka możemy wyróżnić wiele
rodzajów SPM:
- tunelowy (STM),
-sił atomowych (AFM),
- dynamiczny (DFM),
- magnetyczny (MFM),
Igła (ostrze)
- elektrostatyczny (EFM),
- sonda Kelvina (KPFM),
-sił poprzecznych
(LFSM),
http://www.zurich.ibm.com/
itd....
309178438.003.png 309178438.004.png 309178438.005.png 309178438.006.png 309178438.007.png 309178438.008.png 309178438.009.png 309178438.010.png 309178438.011.png 309178438.012.png 309178438.013.png 309178438.014.png 309178438.015.png 309178438.016.png 309178438.017.png 309178438.018.png 309178438.019.png 309178438.020.png 309178438.021.png 309178438.022.png 309178438.023.png 309178438.024.png 309178438.025.png 309178438.026.png
W mikroskopie STM wykorzystujemy efekt tunelowy zbli
wykorzystujemy efekt tunelowy zbliż a ają c przewodz
c przewodzącą i ig ł łę
do przewodzą cej pr
cej pró bki na odleg
bki na odległo ś ść ok. 2
ok. 2- 3 3 Å
W mikroskopie STM
do przewodz
309178438.027.png

Plik z chomika:

Inne pliki z tego folderu:

Inne foldery tego chomika:

Zgłoś jeśli naruszono regulamin