3.1. Rodzaje półfabrykatów 115
RYS. 3.23. Oznaczenie grubości dna i ścianek
Przy projektowaniu odkuwek matrycowych ważne są grubości dna i ścianek (żeber) oraz wielkości promieni i pochylenia ścianek. Najmniejsze grubości dna g (rys. 3.23), w zależności od stosunku długości l lub wysokości h odkuwek do średnicy, szerokości bs lub średniej średnicy ds, podano w tabl. 3.32. Najmniejsze grubości ścianek (żeber) gi (rys. 3.23) zależnie od wysokości odkuwek h\, są zamieszczone w tabl. 3.33. Promienie zaokrągleń krawędzi są zależne od tego czy dotyczą one krawędzi zewnętrznych, wgłębień, czy miejsc zmian przekroju. Promienie zaokrągleń krawędzi zewnętrznych r\ (rys. 3.24) są zależne od wysokości h\ odkuwki względem linii podziałowej matrycy (tabl. 3.34). Z kolei promienie zaokrągleń wgłębień (rys. 3.24) i"2 zależą od głębokości wgłębień h (tabl. 3.35). Najmniejsze promienie zaokrągleń r3 w miejscach zmiany przekroju (rys. 3.24) zależą od szerokości b lub średnicy d. Są one podane w tabl. 3.36.
TABLICA 3.32. Najmniejsze grubości dna g
6(i) lub Ąi) mm
Najmniejsze grubości dnag dla stosunku ffi(s) lub HĄś)
powyżej
do
llb(s) lub hltfls) 3
//6(5) lub hldfs) 3 mm
25
2
3
40
4
63
5
6
100
8
160
10
250
12
16
400
20
630
30
dzikus21